Ziele:
- Erreichen der physikalisch möglichen Ortsauflösung von STM und AFM
- optimale physikalische Sensoreigenschaften
- tiefe Temperaturen
- chemisch definierte Spitzen
- Verständnis der Wechselwirkung Spitze-Probe verbessern
- Vereinfachung der Rastersondenmikroskopie für
- Einsatz in schwierigen Umgebungsbedingungen (UHV, tiefe Temperaturen)
- Werkzeug zum Studium von Isolatoren
- 1. abbilden, 2. identifizieren, 3. manipulieren beliebiger Atomsorten auf beliebiegen
Oberflächen (kristallin & amorph) in allen Umgebungen (Vakuum, Gas, Flüssigkeit)
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