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Prinzip des Rastertunnelmikroskops (Scanning Tunneling Microscope STM)

Prinzip STM

In diesem Bild ist der grundlegende Aufbau eines Rastertunnelmikroskops gezeigt: eine scharfe Spitze wird auf eine Rastereinheit, bekannt als "xyz Scanner", montiert, welcher die Positionierung in x-, y- und z-Richtung mit subatomarer Genauigkeit ermöglicht. Die Tunnel-Spitze ist typischerweise ein Draht, welcher durch chemisches Ätzen oder mechanische Bearbeitung angespitzt wurde. Als Material wird oft Wolfram, Platin-Iridium oder reines Iridium verwendet. Zwischen Spitze und Probe wird eine Spannung Vt angelegt, und wenn der Abstand zwischen Spitze und Probe im Bereich von einigen Ångström liegt, fließt der Tunnelstrom It. Dieser Strom wird für die Regelung des z-Scanners verwendet.

Im Topographiemodus werden Bilder erzeugt, indem man It durch Regelung konstant hält und die z-Position des Scanners aufnimmt. Im constant-height Modus, bei dem die z-Position konstant gehalten wird, rastert die Spitze schnell über die Probe, sodass die Regelung den atomaren Abweichungen nicht folgen kann. Die Atome erscheinen dann als Modulationen im Tunnelstrom It, welche als Funktion von x und y aufgenommen werden. Das Scannen der Probe wird meist rasterförmig durchgeführt mit einer schnellen (Sägezahn- oder Sinus-Signal) und einer langsamen (Sägezahn-Signal) Scan-Richtung. Ein Computer steuert das Scannen der Oberfläche in der x-y-Ebene, während die z-Position der Spitze (Topographie-Modus) oder der Tunnelstrom (constant-height-Modus) aufgenommen werden. Es ergibt sich ein dreidimensionales Bild aus z(x,y,It = const) oder It (x,y,z = const).

 
Letzte Änderung: 18.09.2008 von Webmaster