Spezielle Spitzen Präparation

Das Auflösungsvermögen der Kraftmikroskopie (AFM) und die Regelcharakteristik des AFMs sind eng mit der physikalischen Natur der Kräfte zwischen Spitze und Probe verbunden. Die atomare Konfiguration und die chemische Identität der Spitze eines Kraftmikroskops ist von zentraler Bedeutung für die Abstands- und Winkelabhängigkeit der Kraft zwischen Spitze und Probe [1, 2].

Bisher wurden die Spitzen mittels elektrochemischem Ätzen, einer kontrollierten Kollision mit der Probenoberfläche oder durch Ionenbeschuss präpariert. In diesem Projekt wird versucht in situ, saubere und kristallographisch wohldefinierte Spitzen aus leicht spaltbaren Materialien herzustellen.

Die Hoffnung dabei ist, mit diesen Spitzen die Austauschwechselwirkung wechselnder Spinorientierungen detektieren zu können.

[1] Y. Sugimoto, P. Pou, M. Abe, P. Jelinek, R. Perez, S. Morita and O. Custance, Nature, Vol.446, 64-67 (2007)

[2] S. Hembacher, F.J. Giessibl, Jochen Mannhart, Science, Vol. 305, 380-383 (2004)